全自动高温霍尔效应测试系统
发布时间: 2022-12-07 访问次数: 107
| 品牌/型号 | ECOPIA / HMS-5500 |
| 编号/取得日期 | 00199945 / 2017.3.17 |
| 仪器简介 | 主要测量Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO等所有半导体薄膜(P型和N型)。霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数。 |
| 技术参数 | 输入电流：1nA ~ 20mA； 电阻率：10exp(-5) ~ 10exp7Ω.cm； 载流子浓度：10exp7 ~ 10exp21 cm-3； 迁移率：1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec； 磁场强度：0.55T； 样品测量板：弹簧样品板； 样品尺寸：5mm×5mm ~ 20mm×20mm； 温度范围：80K-773K； 磁体包尺寸：700×220×280 mm (W×H×D) / 15.5Kg |